低真空SEM
材質を問わず表面形状を観察できるので、工業製品の表面形状や破損・汚れ等の状態を詳細に知ることができます。また、観察画面の元素分析を行うことができるので、異物の付着や混入など、品質管理やクレーム処理に利用できます。
利用状況 | 依頼試験のみ |
---|---|
対応分野 |
|
使用目的 |
|
メーカー | 日本電子(株) |
型式・番号 | JSM-6610LA |
導入年度 | 2008年度 |
ポイント・仕様 |
・最大試料サイズ:200mmφ×80mmh ・観察可能領域:178mmφ ・観察倍率:5倍~5万倍以上 ・検出可能元素:Be~U ・チャンバー内観察用赤外線カメラ有 ・写真・分析結果のデジタル出力可能 |
用途 | 製品の表面形状や破損・汚れ等の観察、測定。 |
活用事例 | |
利用上の注意 | |
使用料(県内)円/時間 | |
使用料(県外)円/時間 | |
設置場所(所属名) | 産業技術研究開発センター |
担当機関 | 機械電子研究所 |
郵便番号 | 〒930-0866 |
所在地 | 富山県富山市高田383番地 |
TEL | 076-433-5466 |
FAX | 076-433-5472 |
備考 |