設備機器 詳細

X線マイクロアナライザー

電子線を試料に照射してSEM像を観察するとともに、発生する特性X線を検出して微小領域での元素分析、マッピング(二次元的な分布の分析)を行う装置である。波長分散型X線分光器を備え、微量元素の高感度分析が可能である。

設備機器概要
利用状況 依頼試験のみ
対応分野
  • 化学
使用目的
  • 分析・評価
メーカー 日本電子(株)
型式・番号 JXA-8230
導入年度 2013年度
ポイント・仕様 ・分析元素範囲:B~U
・二次電子分解能:5nm(LaB6フィラメントの場合)
・波長分散型X線分光器数:5基
・加速電圧:0.2~30kV
用途 電子部品、機械部品、その他様々な材料の微小領域での元素分析、マッピングに利用される。また、微小異物や微小異常部の元素分析、マッピングにも利用される。
活用事例
利用上の注意
使用料(県内)円/時間
使用料(県外)円/時間
設置場所(所属名) 産業技術研究開発センター
担当機関 機械電子研究所
郵便番号 〒930-0866
所在地 富山県富山市高田383番地
TEL 076-433-5466
FAX 076-433-5472
備考 本設備は、公益財団法人JKA(旧日本自転車振興会)補助事業で導入しました。