設備機器 詳細

マイクロX線光電子分光装置(μ-XPS)

試料にX線を照射し、深さ数nmの極表面から発生する光電子エネルギーを検出することで、極表面の元素分析を行う。

設備機器概要
利用状況 依頼試験のみ
対応分野
  • 化学
使用目的
  • 分析・評価
メーカー アルバック・ファイ(株)
型式・番号 Quantum 2000
導入年度 2004年度
ポイント・仕様 最小分析面積10μmφ
半球静電型
光学顕微鏡
データ処理装置
用途 各種材料表面及び薄膜の元素分析並びに元素間の結合状態分析。
活用事例
利用上の注意
使用料(県内)円/時間
使用料(県外)円/時間
設置場所(所属名) 産業技術研究開発センター
担当機関 機械電子研究所
郵便番号 〒930-0866
所在地 富山県富山市高田383番地
TEL 076-433-5466
FAX 076-433-5472
備考