X線回折測定装置
対応分野 |
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キーワード |
・同定 ・結晶配向性 ・残留応力 ・極点図 ・粒子径 ・結晶構造 |
ポイント | 本装置は、試料にX線を照射することで発生するX線回析パターンから、化合物の同定をおこなうことができます。さらに、試料の結晶配向性・残留応力・極点図・粒子径など結晶構造に関する様々な物性についても解析することができます。 |
お問い合わせ | 産業技術研究開発センター |
郵便番号 | 〒933-0981 |
所在地 | 富山県高岡市二上町150 |
TEL | 0766-21-2121 |
FAX | 0766-21-2402 |
備考 |